Главная » Техническая база - Химико-аналитический центр
 Техническая база - Химико-аналитический центр — версия для печати
Химико-аналитический центр
| 1.Спектрометр эмиссионный с индуктивно связанной плазмой «Arcos» |
Используется для проведения многоэлементарного анализа различного минерального сырья, после переведения проб в раствор.
SPECTRO ARCOS отличается от традиционных ICP спектрометров уникальной оптической системой,
с непревзойденным разрешением, точностью и стабильностью.
SPECTRO ARCOS снабжен вертикальной горелками. Новая оптическая
система имеет разрешение 8.5 пикометров в диапазоне длин волн от 130 до 340 nm.
SPECTRO ARCOS оборудован новым генератором с керамической лампой, высокоскоростной
системой считывания с динамическим диапазоном 8 декад. |
 |
| 2. Атомно-абсорбционный спектрометр «Solaar» |
Определение массовой доли элементов атомно-абсорбционным методом в минеральном сырье, горных породах и продуктах их переработки.
Технические характеристики:
• двухлучевой автоматический атомно-абсорбционный спектрометр с пламенной системой атомизации;
• оптический диапазон 180-900 нм;
• автоматическая турель на 6 ламп с полым катодом;
• автоматический выбор полосы пропускания 0,2, 0,5 и 1,0 нм;
• пламенная атомизация;
• учет неселективного поглощения Quad Line;
|
 |
| 3. Анализатор серы и углерода «CS-800» |
Экспресс определение серы и углерода, продолжительность анализа 60 сек. Процедура измерений основана на сжигании образца и последующем анализе газов при помощи инфракрасной абсорбции. Широкий спектр материалов: минеральное сырье, руда, стали.
Диапазоны измерений массовой доли компонентов, %: углерода 0, 001.5, 0; серы 0, 001.7, 0; воды 0, 1.20, 0. |
 |
| 4.Лазерные анализаторы размеров частиц SALD-301 V |
Первый в мире лазерный анализатор размеров частиц с фиолетовым полупроводниковым лазером (длина волны 405 нм).
Модель лазерного анализатора SALD -301V используется для определения размеров частиц и анализа распределения частиц по размерам, и применяется в металлургии, биологии, фармацевтике, химии, экологии и др. областях.
Использование полупроводникового лазера обеспечивает высокую точность измерения и высокое разрешение. |
 |
| 5.Система микроволнового разложения в закрытых сосудах «Mars 5» |
Используется для разложения любых типов образцов, в том числе самых сложных образцов (масел и тяжелых фракций нефти, вредных отходов, огнеупорных материалов, керамики, руд, шлаков, полимеров, сплавов, пищевых продуктов) при самой высокой температуре или давлении в условиях максимальной безопасности. |
 |
| 6. Рентгеновский дифрактометр порошковых материалов XRD-7000S |
Анализ вещественного состава (в основном химическими методами) минерального сырья, продуктов его переработки и техногенных образований дает технологическим отделам института информацию не только об элементном, но и фазовом составе рудных и нерудных проявлений железа, марганца, хрома, серы, сульфидных и окисленных фаз меди, цинка, свинца, форм золота и серебра и других элементов.
Дифрактометр предназначен для решения широкого круга исследовательских задач и позволит получать важную информацию о минеральном, качественном и количественном фазовом составе исследуемых многокомпонентных материалов, степени кристалличности и параметрах кристаллической решетки, размерах кристаллитов и величины микронапряжений фаз, составляющих объект исследований. |
 |
| 7. Спектометр рентгенофлуоресцентный PERFORMIX |
Волновой рентгенофлуоресцентный спектрометр последовательного действия ARL PERFORM’X компании Thermo Scientific предназначен для проведения элементного анализа (в т.ч. бесстандартного) в динамическом диапазоне измерений от 10 -4 до 100 %, в образцах горных пород, руд черных, цветных, редких металлов и продуктов их переработки, неметаллических полезных ископаемых, техногенных образованиях, шлаках, клинкерах, окатышах, агломератах, хвостах обогатительных фабрик и т.п., в том числе в порошковых и жидких образцах (растворах и пульпах) с использованием продувки гелием, а также проведением локального элементного анализа (с фокусированием до 0,5 мм) и картированием с визуализацией распределения элементов по поверхности исследуемого образца (с минимальным шагом 0,1 мм). |
 |
|